Zeiss Geminisem 300 может выполнять вторичную электронную визуализацию Inlens и обработанную электронную визуализацию одновременно с разрешением до 0,7 нм. Он может реализовать быстрое, высококачественное, без искажений крупномасштабную и субнано-разрешенную визуализацию. Детектор EDS с окном 100 мм2 может выполнять количественное определение элементов точки, линии и области. Детектор EBSD может собирать EBSPS без искажений и Megapixel Resolution для подробного анализа деформации и фазы.

Spectro Arcos ICP-OES имеет вертикальную структуру двойного наблюдения (DSOI), которая повышает чувствительность и устраняет проблемы совместимости загрязнения/матрицы. Его оптическая система ORCA может захватывать спектры в диапазоне 130-770 нм. По сравнению с системами на основе Echelle с междисперсией с использованием решетки на среднем этапе и призме, он обеспечивает производительность в диапазоне ультрафиолетового/VUV с интенсивностью фотоакустического сигнала в диапазоне в 5 раз.

SpectroLab S имеет мировую систему записи детекторов на основе CMOS, что делает ее идеальной для анализа высококачественных металлов. Он обеспечивает чрезвычайно быстрый, очень точный и исключительно гибкий анализ для приложений, от микроэлементов до мульти-матрицы.

Jena Novaa 800F оснащена интегрированной каруселью с RFID-считывателем для 8 кодированных полых катодных ламп, коррекции фона дейтерия, проверенной оптической скамей в режиме одиночного и двойного луча, а также в режиме излучения и новейшим твердотельным детектором Siosens. Его многочисленные интеллектуальные аксессуары максимизируют производительность, безопасность и простоту использования для аналитических процедур.

Система универсального тестирования материала 68TM-30 имеет датчики нагрузки 30 кН и 1 кН с точностью 0,5 качества в диапазоне 0,1 ~ 100%. Система тестирования может выполнять интегрированное управление и сбором с замкнутым контуром данных, а также автоматическую идентификацию и калибровку датчиков. Его высокий неконтактный видеопрофессионат AVE2 имеет разрешение 0,5 мкм и использует запатентованную систему кросс-поляризованного освещения и вентиляторы CDAT для устранения влияния персонала, освещения и воздушного потока на результаты испытаний для очень повторяемого и точного измерения деформации. $

В проекте VR-5200 используется полосатый структурированный свет и высокопрофессиональный датчик CMOS для захвата изображений и измерения высоты и положения каждой точки. Оснащенный объективом с низким мощным, он может измерять диапазоны до 200 × 100 × 50 мм. Линза с высоким содержанием магнификации уменьшает разрешение дисплея до 0,1 мкм, что позволяет проводить бесконтактную партию измерения формы, колебаний и шероховатости. $

IM-8020 использует двойную телецентрическую линзу с исключительными возможностями обнаружения краев для измерения образцов различной высоты с одним щелчком. Производительность обнаружения в 3 раза больше обычных моделей благодаря 20-мегапиксельным CMO и новому алгоритму обнаружения края. С площадью измерения 300 мм × 200 мм и в два раза превышает скорость традиционных моделей, она может составлять до 300 частей всего за несколько секунд. Это допускает быстрые, точные и простые измерения, значительно повышая точность, одновременно сокращая время измерения и человеческую ошибку. $

Анализатор лазерных частиц Helos/BR оснащен мощным и надежным устройством сухой дисперсии Rodos для быстрого и повторяемого анализа размера частиц сухих образцов. Он имеет диапазон измерений от 0,3 до 175 мкм и точность менее 0,3%.

STA 449F3 Jupiter-это надежный, гибкий и простой в использовании инструмент, который одновременно определяет эффекты калорий и вариацию массы. Он сочетает в себе высокопроизводительный DSC с термобалансом с разрешением микрограммы, предлагая непревзойденную нагрузку на образцы и диапазон измерений. $